當前位置: 首頁 > 產品中心 > 通用儀器 > 電子天平 > 超微量天平 > 梅特勒托利多XP系列超...
梅特勒托利多XP系列超微量天平
咨詢熱線:0512-69833975

特點:
●采用分離的稱量單元和顯示控制單元,避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
●天平校驗功能(BalanceCheck),自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平,確保稱量結果始終準確
●GWPExcellenceTM一體化安全功能,確保天平始終正確工作
●優(yōu)化天平適應性的稱量參數(shù)設置,滿足不同稱量環(huán)境要求
●豐富的內置稱量應用程序:基礎稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量
●標配CarePacS?,用于天平的日常測試,確保獲得準確稱量結果
技術指標:
|
型號 |
最大稱量值(g) |
可讀性(mg) |
重復性(sd)(mg) |
線性誤差(mg) |
典型穩(wěn)定時間(S) |
秤盤尺寸?(mm) |
|
XP2U |
2.1 |
0.0001 |
0.00025 |
0.0015 |
10 |
16 |
|
XP6 |
6.1 |
0.001 |
0.0008 |
0.004 |
7 |
27 |
-
暫無上一篇
暫無下一篇

